공인인증 시험항목 소개

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번호 인정분야 세부분야 시험기관 규격번호 규격명 시험범위 또는 검출한계
81 화학시험 기타 석유제품 (재)대구테크노파크 나노융합실용화센터 ISO 15106-3 : 2003 Plastics-Film and sheeting-Determination of water vapour transmission rate - Part 3: Electrolytic detection sensor method (0.00005 ~ 50) g/(㎡·24h)
80 화학시험 기타 석유제품 (재)대구테크노파크 나노융합실용화센터 KS M ISO 15106-3 : 2003 플라스틱-필름 및 시트-수증기 투과도의 측정-제3부:전기 분해 감지 계기법 (0.00005 ~ 50) g/(㎡·24h)
79 화학시험 기타 석유제품 (재)대구테크노파크 나노융합실용화센터 ASTM F 3299-18 Standard Test Method for Water Vapor Transmission Rate Through Plastic Film and Sheeting Using an Electrolytic Detection Sensor (Coulometric P2O5 Sensor) (0.00005 ~ 50) g/(㎡·24h)
78 전기시험 환경 및 신뢰성 (재)대구테크노파크 나노융합실용화센터 IEC 60068-2-78 : 2012 Environmental tseting - Part 2-78: Tests - Test Cab: Damp heat, steady state (30 ~ 40) ℃ (25 ~ 93) % R.H.
77 전기시험 환경 및 신뢰성 (재)대구테크노파크 나노융합실용화센터 KS C IEC 60068-2-78 : 2012 환경 시험 — 제2-78부: 시험 — 시험 Cab: 안정 상태의 내습성 시험 (30 ~ 40) ℃ (25 ~ 93) % R.H.
76 전기시험 환경 및 신뢰성 (재)대구테크노파크 나노융합실용화센터 IEC 62341-5 : 2009 Organic light emitting diode (OLED) displays - Part 5: Environmental testing methods <Exception> 6 Measurement and analysis, 7.10 (Simulated) Sunlight exposure, 7.11 Low air pressure, 7.12 ESD (-50 ~ 100) ℃ (25 ~ 85) % R.H.
75 전기시험 환경 및 신뢰성 (재)대구테크노파크 나노융합실용화센터 KS C IEC 62341-5 : 2017 유기발광다이오드(OLED) 디스플레이 — 제5부: 환경 및 기계적 신뢰성 시험방법 <제외> 6 측정 및 분석, 7.9 태양광에 의한 훼손 시험, 7.10 저압시험, 7.11 정전기 방전(ESD) 시험 (-50 ~ 100) ℃ (25 ~ 85) % R.H.
74 전기시험 환경 및 신뢰성 (재)대구테크노파크 나노융합실용화센터 IEC 62715-6-2 : 2017 Flexible display devices – Part 6-2: Environmental testing methods <Exception> 6 Measurement and analysis (-50 ~ 100) ℃ (25 ~ 85) % R.H.
73 전기시험 환경 및 신뢰성 (재)대구테크노파크 나노융합실용화센터 MIL-STD-810H : 2019 DEPARTMENT OF DEFENSE TEST METHOD STANDARD ENVIRONMENTAL ENGINEERING CONSIDERATIONS AND LABORATORY TESTS - Environmental Engineer (501.7:High Temp, 502.7:Low Temp, 503.7:Thermal Shock, 507.6:Humidity) 501.7 High Temperature : (30 ~ 71)℃ 502.7 Low Temperature : (-61 ~ 5)℃ 503.7 Thermal Shock : (-61 ~ 71)℃ 507.6 Humidity : (20 ~ 95)%R.H.
72 전기시험 환경 및 신뢰성 (재)대구테크노파크 나노융합실용화센터 MIL-STD-883K : 2018 DEPARTMENT OF DEFENSE TEST METHOD STANDARD – Microcircuits (1010.9 Temperature Cycling) 1010.9 Temperature Cycling : (-65 ~ 175)℃

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